Chen Shoumian: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (29)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

An Optimized Scalable BSIM Macromodel for HV Double-Diffused Drain MOSFET – Characteristics

Xu Jiayi, Shi Yanling, Ren Zheng, Hu Shaojian, Chen Shoumian, Zhao Yuhang, Ding Yanfang, Lai Zongsheng

Журнал:

IEEE Transactions on Power Electronics

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 650 KB

english, 2008

2

Extraction and modeling of layout-dependent MOSFET gate-to-source/drain fringing capacitance in 40nm technology

Sun, Lijie, Shang, Ganbing, Liu, Linlin, Cheng, Jia, Guo, Ao, Ren, Zheng, Hu, Shaojian, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Chan, Mansun, Zhang, Long, Li, Xiaojin, Shi, Yanling

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.77 MB

english, 2015

3

Accurate SPICE Modeling of Poly-silicon Resistor in 40nm CMOS Technology Process for Analog Circuit Simulation

Sun, Lijie, Li, Xiaojin, Shi, Yanling, Guo, Ao, Liu, Linlin, Hu, Shaojian, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Shang, Ganbing, Cheng, Jia, Ding, Lin, Li, J.Y., Liu, T.Y., Deng, T., Tian, M.

Журнал:

MATEC Web of Conferences

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.69 MB

english, 2015

4

[IEEE 2012 Spring Congress on Engineering and Technology (S-CET) - Xi'an, China (2012.05.27-2012.05.30)] 2012 Spring Congress on Engineering and Technology - A Novel Variation-Aware Interconnection Parasitic Extraction Method for 40nm Technology

Ren, Zheng, Li, Xi, Shi, Yanling, Hu, Shaojian, Zhou, Wei, Chen, Shoumian

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 674 KB

english, 2012

5

[IEEE 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Xian, China (2012.10.29-2012.11.1)] 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology - Cu/Airgap integration on 90nm Cu BEOL process platform

Kang, Xiaoxu, Zuo, Qingyun, Wang, Xinxue, Zeng, Shaohai, Chen, Shoumian

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 690 KB

english, 2012

6

[IEEE 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) - Shanghai, China (2019.3.18-2019.3.19)] 2019 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) - A High-Sensitivity Low-Noise HDR CMOS Image Sensor Based on Novel 6-TR. 1-CAP. Pixel for Scientific Applications

Li, Chen, Duan, Jiebin, Gu, Xueqiang, Wang, Yong, Wen, Jianxin, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.42 MB

english, 2019

7

[IEEE 2019 IEEE 19th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO) - Macao (2019.7.22-2019.7.26)] 2019 IEEE 19th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO) - Analysis of Thermal Treatment Influence on Graphene Oxide Thin Film Deposited by Modified Coating Process

Kang, Xiaoxu, Lu, Hanwei, Zhang, Bo, Kang, Xiaozhi, Shen, Ruoxi, Zhong, Xiaolan, Li, Ming, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Liu, Shanshan, Zhu, Limin

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.28 MB

english, 2019

8

[IEEE 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings - Shanghai, China (2006.10.23-2006.10.26)] 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings - Optimization of BSIM3 I-V Model for Double Diffused Drain HV MOSFET

Ren, Zheng, Hu, Shaojian, Shi, Yanling, Jun, Zhu, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 189 KB

english, 2006

9

[IEEE 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings - Shanghai, China (2006.10.23-2006.10.26)] 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings - A novel structure of non-planar RF spiral inductor based on silicon

Tang, Shenqun, Shi, Yanling, Luo, Tianxing, Ding, Yanfang, Wang, Yong, Zhu, Jun, Chen, Shoumian, Zhao, Yunhang

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 211 KB

english, 2006

10

A Correlation-Considered Variation-Aware Interconnect Parasitic Profile Extraction Method

Zheng, Ren, Xi, Li, Shaojian, Hu, Shoumian, Chen, Yuhang, Zhao, Yanling, Shi

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.45 MB

english, 2012

11

[IEEE 2013 IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON 2013) - Shenzhen, China (2013.10.28-2013.10.31)] 2013 IEEE 10th International Conference on ASIC - Fabrication of silicon-based MEMS capacitive microphone structure with thin starting wafer

Xiaoxu Kang,, Chao Yuan,, Qingyun Zuo,, Changwa Yao,, Shoumian Chen,, Yuhang Zhao,, Yilin Yan,, Yuanjun Xu,, Weiping Zhou,

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 318 KB

english, 2013

12

[IEEE 2006 IEEE International Conference on Information Acquisition - Veihai, China (2006.08.20-2006.08.23)] 2006 IEEE International Conference on Information Acquisition - A Novel Structure On-Chip Spiral Inductors with Gradually Changed Metal Line Width and Space

Wang, Yong, Shi, Yanling, Ding, Yanfang, Tang, Shenqun, Luo, Tianxing, Zhu, Jun, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.07 MB

english, 2006

13

[American Vacuum Soc 1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage - Monterey, CA, USA (9-11 May 1999)] 1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395) - Plasma induced damage from HDP process on the ultra-thin gate oxide

Shoumian Chen,, Sudijono, J., Perera, C., Yin Jin,, Susilo, F., Xu Zeng,, Kumar, A.V., Jianqing Wen,

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 197 KB

english, 1999

14

[IEEE Extended Abstracts of the Fourth International Workshop on Junction Technology - Shanghai, China (15-16 March 2004)] The Fourth International Workshop on Junction Technology, 2004. IWJT '04. - Study of Co silicidation process for 0.18/0.15μm CMOS technology

Hu Hengsheng,, Chen Shoumian,

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 242 KB

english, 2004

15

[IEEE 2006 IEEE International Conference on Information Acquisition - Veihai, China (2006.08.20-2006.08.23)] 2006 IEEE International Conference on Information Acquisition - A New Accurate and Fast Arithmetic for On-chip Spiral Inductors

Luo, Tianxing, Shi, Yanling, Tang, Shenqun, Ding, Yanfang, Liu, Yun, Wang, Yong, Zhu, Jun, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.20 MB

english, 2006

16

[IEEE 2012 IEEE International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Bangkok, Thailand (2012.12.3-2012.12.5)] 2012 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid State Circuit (EDSSC) - Development of low stress TaN thin film for MEMS/sensor electrode application

Xiaoxu Kang,, Qingyun Zuo,, Chao Yuan,, Shoumian Chen,, Yuhang Zhao,

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 363 KB

english, 2012

17

TaN BOTTOM ELECTRODE THERMAL SENSING RESISTOR FOR MEMs-BASED BOLOMETER APPLICATION

KANG, XIAOXU, LI, JIAQING, YUAN, CHAO, CHEN, SHOUMIAN, ZHAO, YUHANG

Журнал:

Journal of Circuits System and Computers

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 847 KB

english, 2013

18

LOW STRESS TaN THIN FILM DEVELOPMENT FOR MEMS/SENSOR ELECTRODE APPLICATION

KANG, XIAOXU, ZUO, QINGYUN, YUAN, CHAO, CHEN, SHOUMIAN, ZHAO, YUHANG

Журнал:

Journal of Circuits System and Computers

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2013

19

ECS Transactions [ECS China Semiconductor Technology International Conference 2012 (CSTIC 2012) - Shanghai, China (March 18 - March 19, 2012)] - In-Line Inspection on Thickness of Sputtered Thin Ta and TaN Films by Spectroscopic Ellipsometry

Yuan, Chao, Kang, Xiaoxu, Zuo, Qingyun, Zeng, Shaohai, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 689 KB

english, 2012

20

Beam Induced Degradation Effect in Ion Beam Analysis of Polymer

Guohua, Yang, Dezhang, Zhu, Haochang, Pan, Hongjie, Xu, Shoumian, Chen

Журнал:

Chinese Physics Letters

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 289 KB

english, 1991

21

[IEEE 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology, 2004. - Beijing, China (Oct. 18-21, 2004)] Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology, 2004. - Optimization of on-chip inductor and its application in low-pass filter

Yun Liu,, Yong Wang,, Yanling Shi,, Ling Jiang,, Shoumian Chen,, Yuhang Zhao,, Xiaojin Li,

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 578 KB

english, 2004

22

Analytical parameter extraction for NBTI reaction diffusion and trapping/detrapping models

Wang, YanLing, Li, XiaoJin, Qing, Jian, Zeng, Yan, Shi, YanLing, Guo, Ao, Hu, ShaoJian, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.35 MB

english, 2016

23

[IEEE 2015 IEEE 11th International Conference on ASIC (ASICON ) - Chengdu, China (2015.11.3-2015.11.6)] 2015 IEEE 11th International Conference on ASIC (ASICON) - Humidity sensor with graphene oxide as sensing material

Kang, Xiaoxu, Zuo, Qingyun, Yuan, Chao, Wang, Weijun, Gao, Meng, Jiang, Liangliang, Zhou, Yongxing, Wang, Yong, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Liu, Jia, Sheng, Wenjie, Zhou, Jia

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 258 KB

english, 2015

24

Analytical long-term NBTI recovery model with slowing diffusivity and locking effect of hydrogen considered

Zeng, Yan, Li, XiaoJin, Wang, Yanling, Sun, Yabin, Shi, YanLing, Guo, Ao, Hu, ShaoJian, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.51 MB

english, 2017

25

[IEEE 2017 IEEE 12th International Conference on ASIC (ASICON) - Guiyang, China (2017.10.25-2017.10.28)] 2017 IEEE 12th International Conference on ASIC (ASICON) - Development and characterization of TaN thin film resistor with CMOS compatible fabrication process

Kang, Xiaoxu, Zhu, Limin, Zhu, Xingwang, Zuo, Qingyun, Zhong, Xiaolan, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Liu, Shanshan, Lu, Hanwei, Wang, Jianmin, Wang, Wei, Zhang, Bo

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 229 KB

english, 2017

26

Gate length scaling optimization of FinFETs

Chen, Shoumian, Shang, Enming, Hu, Shaojian

Журнал:

International Journal of Modern Physics B

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.59 MB

english, 2018

27

[IEEE 2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Hangzhou, China (2016.10.25-2016.10.28)] 2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Application of graphene sheet as intermediate heat spreading layer in LED modules

Xiaoxu Kang,, Weijun Wang,, Qingyun Zuo,, Lanfang Shi,, Chao Yuan,, Bin Jiang,, Shoumian Chen,, Yuhang Zhao,, Weigang Li,, Qiang Li,, Xinping Chen,

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 7.24 MB

english, 2016

28

Air-Stable and Self-Driven Perovskite Photodiodes with High On/Off Ratio and Swift Photoresponse

Yan, Yajie, Wu, Qingqing, Zhao, Yuhang, Chen, Shoumian, Hu, Shaojian, Zhu, Jianjun, Huang, Jia, Liang, Ziqi

Журнал:

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 7.74 MB

english, 2018

29

Temperature-Driven Gate Geometry Effects in Nanoscale Cryogenic MOSFETs

Wang, Zewei, Tang, Zhidong, Guo, Ao, Luo, Xin, Cao, Chengwei, Yuan, Yumeng, Zhang, Xiuhao, Liu, Lingge, Li, Jialun, Cao, Yongfeng, Shao, Qiming, Hu, Shaojian, Chen, Shoumian, Zhao, Yuhang, Kou, Xufeng

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2020

Мова:

english

Файл:

PDF, 604 KB

english, 2020